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GJB 4.11-83是關(guān)于《艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn)》的方法。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了艦船電子設(shè)備的元、器件或零部件的鹽霧試驗(yàn)。它是制訂艦船電子設(shè)備總技術(shù)條件或產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)等技術(shù)文件相應(yīng)部分的基礎(chǔ)和選用依據(jù)。
確定電子元、器件或零部件抗鹽霧腐蝕的能力。主要用以評(píng)定金屬保護(hù)層的質(zhì)量及其均勻性，特別適用于對(duì)類似保護(hù)層進(jìn)行比較。
2.1 箱（室）所用材料應(yīng)有抗鹽霧腐蝕的能力，不允許因材料腐蝕而影響試驗(yàn)效果；
2.2 箱（室）應(yīng)能夠調(diào)節(jié)到試驗(yàn)需要的各種條件；
2.3 箱（室）應(yīng)有足夠的容積，條件應(yīng)均勻穩(wěn)定，不因放置試驗(yàn)樣品而變化。試驗(yàn)參數(shù)要易于從箱（室）外控制。
2.4試驗(yàn)時(shí)，鹽霧不允許直接噴射到試驗(yàn)樣品上；
2.5 箱（室）頂、四壁或其他部分所凝結(jié)的水不允許低落在試驗(yàn)樣品上；
2.6箱（室）應(yīng)設(shè)有觀察窗及照明裝置，以便能觀察箱（室）內(nèi)試驗(yàn)樣品及溫度、沉降率等情況。
